品牌 | TaylorHobson/英國泰勒霍普森 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生 | 量程 | 200μm |
表面粗糙度測量儀
Surtronic Duo II 被廣泛用于生產(chǎn)現(xiàn)場、工業(yè)廠房和檢測室。
Surtronic Duo II 可用于評估地面的安全性,也可幫助地面材料制造商控制生產(chǎn)過程中的粗糙度。
它可靠、耐用、快速、易于使用,并且只需很少的培訓(xùn)。
Surtronic Duo II 專門用于測量表面粗糙度,可與 HSE 滑倒評估軟件結(jié)合使用,以檢查地面的粗糙度。
Surtronic 的分辨率為 0.01 µm(0.4 µin),采用的粗糙度標(biāo)準(zhǔn)為 ISO 4287。
表面粗糙度測量儀
Surtronic Duo II ,只需按一鍵即可測量多個粗糙度參數(shù)。這些參數(shù)(如Ra、Rz、Rp、Rv和Rt)會顯示在直觀的2.4英寸LCD彩色屏幕上。使用充電電池,便于在所有環(huán)境和表面進(jìn)行快速、輕松和精確的現(xiàn)場測量。
Surtronic Duo II 的特點(diǎn):
測量 - 觸覺測量按鈕,適用難測到的位置
分體式 - 通過滑軌和鎖定裝置,分為顯示/控制裝置和驅(qū)動裝置兩部分
金剛石測針和壓電傳感器 - 帶金剛石的堅固耐磨的壓電傳感器測針,確保測量結(jié)果的可靠性。
藍(lán)牙技術(shù) - 在驅(qū)動裝置和顯示/控制裝置之間進(jìn)行快速可靠的通信
技術(shù)參數(shù)
量 程: 200um
行程: 5mm
取樣長度: 0.8mm+/-15%
參數(shù): Ra:0.1um-40um
精 度: Ra:0.1um Ra:0.1um-199um
Rz:0.1um 尺寸:125*80*38mm
檢測方式: 壓電式 重量:200g
關(guān)于泰勒-霍普森
泰勒-霍普森有限公司是美國阿美特克公司的一家子公司,阿美特克公司總部設(shè)在賓夕法尼亞州Berwyn市,擁有超過15,000名員工,年收入超過36億美元,公司事業(yè)蒸蒸日上。阿美特克公司為泰勒-霍普森創(chuàng)造了一個*而強(qiáng)大的現(xiàn)代環(huán)境,以確保泰勒-霍普森未來事業(yè)的連續(xù)成功。
我們持續(xù)不斷地開發(fā)我們的產(chǎn)品組合,以滿足行業(yè)今天所面臨的不斷發(fā)展變化的需求。泰勒-霍普森產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于下一代技術(shù)的開發(fā)和研究,其中,應(yīng)用廣泛的領(lǐng)域包括半導(dǎo)體、硬盤、精密光學(xué)儀器和能源技術(shù)。
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